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薄膜膜厚監測儀 本膜厚監控儀適用于真空電阻熱蒸發、磁控濺射等鍍膜厚度測量,到達設置厚度自動關閉擋板;通過液晶顯示使您能連續獲取完整的沉...
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膜厚監控儀 ? ? 本膜厚監控儀適用于真空電阻熱蒸發、磁控濺射等鍍膜厚度測量,到達設置厚度自動關閉擋板;通過液晶顯示使您能連續獲取完...
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多通道膜厚監控儀 ? 適用于普通蒸發、電子束蒸發、磁控濺射、離子鍍等真空鍍膜厚度測量,特別適合多蒸發源鍍膜機和多腔室鍍膜機進行膜層監控;...
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膜厚監控儀 適用于電阻蒸發、電子束蒸發、磁控濺射、離子鍍等真空鍍膜厚度測量,通過觸摸屏和數碼管顯示,使您能獲取完整的沉積數據。 采...
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小型膜厚監測儀 適用于電腦(工控機)操作控制的電阻熱蒸發、電子束蒸發、磁控濺射等設備的薄膜測量。
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膜厚控制儀 CY-FDC-S膜厚控制儀適用于電子束鍍膜、磁控濺射、電阻熱蒸發等各種鍍膜厚度控制場合。與蒸發源形成閉環控制,實...